古爾曼爆料：二代iPhone Duo原型機正測試屏下面容ID

彭博社記者馬克・古爾曼爆料，蘋果正在測試第二代iPhone Duo原型機，新機把面容ID傳感器安置在外螢幕下方，補齊初代機型的短板。

初代iPhone Duo未搭載面容ID，是用戶反饋最多的短板。摺疊式螢幕機身空間狹小，塞進整套識別組件技術難度很高。蘋果長期壓縮面容ID硬體體積，iPhone 18 Pro的紅外攝影機，就是這項技術優化的成果。

蘋果計劃把紅外攝影機與泛光元件全部隱藏於屏下，減少螢幕開孔。研發順利的話，二代摺疊機型就能用上面容ID；一旦進度滯後，該功能或將推遲到第三代機型才落地。

古爾曼同時提到，研發團隊嘗試為新款iPhone Duo加入操作按鈕，不過這項硬體調整能否最終落地，目前還沒有確定結論。