Micro LED具相當大商業潛力，隨之而來是設備、晶片檢測商機。在TrendForce舉辦的Micro LEDforum 2024研討會，Instrument Systems產品經理Tobias Steinel討論了顯示器和晶片上每個Micro LED的Micro LED計量、分析面臨之挑戰及解決方案。
Tobias Steinel介紹如何以單發射器解析度對顯示器、晶片上的電致發光（Electroluminescence，EL）、光致發光（Photoluminescence，PL）進行測量與分析，並提供使用Instrument Systems測量設備的量產PL晶片測試儀預覽。
Tobias Steinel指出，在Micro LED（µLED）晶片測試中，使用LumiTop對晶片的光致發光、電致發光進行2D測量可得到類似積分球測量的結果，但速度比積分球測量快許多，目前速度約5～20分鐘，具體取決於晶片尺寸及含有多少Micro LED。
LumiTop系列顯示器測試系統針對生產品質優化，該系統包含一個LumiTop成像色度測量儀、一個CAS系列高端光譜儀、一個光電二極體，這種組合能在一個測試站執行所有相關光學測試，最重要的測試變量包括：顯示器均勻性測量（亮度和色度）、缺陷檢測（Mura）、伽瑪指數測定、閃爍和亮度調節。
Tobias Steinel展示了該公司設備如何採用同軸方法，通過物鏡直接將光線照射到晶片，同時將晶片的光致發光以同軸方式直接發送到相機。
這些適用於Micro LED顯示器和晶片的高速、高精度光學計量也可在VR顯示器、微型顯示器上操作，測量準確性對於最終品質非常重要， Tobias Steinel說，他們的設備相機非常準確，能減少測量不確定性並讓客戶獲得更好生產良率。
（首圖來源：wikipedia）
