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新標準型EUV部分采High-NA EUV技術,提高曝光效率超過20%

2024年03月28日 首頁 » 熱門科技

新標準型EUV部分采High-NA EUV技術,提高曝光效率超過20%


荷蘭媒體Bits & Chips報道,曝光機大廠ASML確認,新標準型0.33 NA EUV曝光機NXE:3800E導入部分High-NA EUV技術,工作效率提升。

ASML表示,新標準型EUV曝光機NXE:3800E已出貨,執行效率可達每小時195片晶片,較舊機型160片提高近22%。

下代High-NA高數值孔徑EUV採用更寬光錐,在EUV反射鏡撞擊角度更寬,晶片曝光時導致光損失,故ASML提高光學系統放大倍率,將光線入射角調回合適大小。

不過光罩尺寸不變,增加光學系統放大倍率,會因曝光場減少影響晶片量。ASML僅一個方向將放大倍數從四倍提升至八倍,使曝光場僅縮小一半。

為了降低曝光時間,提升工作效率,有必要提升曝光機載台運動速率。ASML工程師開發同時兼容0.33NA數值孔徑系統的新款快速載台運動系統,對NXE:3800E而言,光學組件相同之前的3600D機型,僅是配備了更高效的EUV光源,工作量提升來自每次曝光間晶片移動加速。與NXE:3600D相比,NXE:3800E載台移動速度提升兩倍,曝光步驟總時間也約減少一半。

運行速度更快,也使能效提升,ASML發言人表示,NXE:3800E整體節省約20%-25%能源。

(首圖來源:ASML)

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