有爆料人在周一稱，蘋果公司正在一款採用單挖孔攝影機的 iPhone 18 Pro 原型機上積極測試屏下面容 ID 系統。
據微博賬號「數碼閒聊站」稱，蘋果公司正在為預計將於明年發布的 iPhone 18 Pro 和 iPhone 18 Pro Max 測試屏下 3D 面部識別技術。
這位爆料人的最新說法證實了 The Information 周末的一篇報道，該報道稱，蘋果兩款 iPhone 18 Pro 機型可能會採用屏下面容 ID，僅在螢幕左上角開一個小孔以容納前置攝影機。
屏下面容 ID 是一項重大的工程挑戰，因為它要求蘋果公司在 iPhone 的 OLED 顯示屏下方集成複雜的紅外面部識別傳感器，並且不能影響其準確性和可靠性。
與簡單的前置攝影機不同，面容 ID 依靠投射和讀取數千個紅外點來創建用戶面部的詳細深度圖。OLED 面板會自然阻擋或散射大部分紅外光，導致系統難以在螢幕下方正常工作。
